Informacje

Centrum kompetencji specjalizuje się w następujących dziedzinach:

1. technologia warstw powierzchniowych:

  • inżynieria powierzchni

  • inżynieria materiałowa

  • powłoki nanostrukturalne natryskiwane plazmowo z zawiesin

  • powłoki natryskane zimnym gazem

  • właściwości powłok natryskanych naddźwiękowo

  • powłoki natryskane plazmowo i naddźwiękowo z obniżonym współczynniku tarcia

  • modyfikacja laserowa powłok natryskanych plazmowo i naddźwiękowo

  • mikroobróbka laserowa (materiały krzemowe)

  • teksturowanie laserowe

  • laserowe obróbki powierzchniowe (stopowanie, przetapianie, hartowanie, napawanie)

  • obróbka laserowa cienkich powłok

  • powłoki nanoszone obróbką elektroiskrową

  • spawanie laserowe i plazmowe materiałów o różnych własnościach fizycznych

 

 

2. automatyzacja procesów: 

  • teoria sterowania automatycznego, teoria identyfikacji, teoria optymalizacji,

  • automatyzacja procesów technologicznych, cyfrowe układy sterowania,

  • metrologia powierzchni, metody pomiaru i analizy okrągłości, falistości, chropowatości 2D i 3D, walcowości, kulistości, prostoliniowości, płaskości, równoległości

  • matematyczne podstawy metrologii, przetwarzanie sygnałów

  • komputerowe układy pomiarowe, modernizacja przyrządów pomiarowych

  • analiza obrazów cyfrowych, rozpoznawanie obiektów na podstawie inteligentnych wzorców,

  • programowanie robotów przemysłowych tworzenie dla nich aplikacji zewnętrznych

  • szybkie prototypowanie sterowania, symulacje hardware in the loop

  • oprogramowanie, metodologia projektowania obrabiarek sterowanych numerycznie, robotów i zautomatyzowanych elastycznych systemów wytwarzania

 

3. metrologia charakterystyki powierzchni:

  • metrologia wielkości geometrycznych – badanie dokładności wymiarowej części maszyn

  • pomiary i analiza odchyłek kształtu części maszyn: okrągłość, walcowość, płaskość, prostoliniowość

  • pomiary i analiza struktury geometrycznej powierzchni 2D i 3D

  • metrologia powierzchni, metody pomiaru i analizy okrągłości, falistości, chropowatości 2D i 3D, walcowości, kulistości, prostoliniowości, płaskości, równoległości

  • matematyczne podstawy metrologii, przetwarzanie sygnałów

  • komputerowe układy pomiarowe, modernizacja przyrządów pomiarowych.

 



Prof. dr hab. inż. Bogdan Antoszewski
Politechnika Świętokrzyska
+48413424109
Dr inż. Jarosław Zwierzchowski
Politechnika Świętokrzyska
+48413424607
dr hab. inż. Wojciech Żórawski
Politechnika Świętokrzyska
+48413424513
dr hab. inż. Norbert Radek
Politechnika Świętokrzyska
+48413424518
Prof. dr hab. inż. Dariusz Janecki
Politechnika Świętokrzyska
+48413424512
dr hab. inż. Leszek Płonecki, prof. PŚk.
Politechnika Świętokrzyska
+48413424478
dr hab. inż. Jerzy Stamirowski, prof. PŚk.
Politechnika Świętokrzyska
+48413424566
dr inż. Leszek Cedro
Politechnika Świętokrzyska
+48413424606
dr inż. Paweł Łaski
Politechnika Świętokrzyska
+48413424489
Prof. dr hab. inż. Stanisław Adamczak
Politechnika Świętokrzyska
+48413424770
dr hab. inż. Włodzimierz Makieła, prof. PŚk.
Politechnika Świętokrzyska
+48413424283
dr inż. Krzysztof Stępień
Politechnika Świętokrzyska
+48413424477